Пиляк Федор Сергеевич

1994 г.р., инженер Института кристаллографии имени А.В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН в лаборатории рентгеновских методов анализа и синхротронного излучения. В 2019 году защитил диплом бакалавра на кафедре оптики, спектроскопии и физики наносистем физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова.

Неоднократно выступал с докладами на международных конференциях по теме времяразрешающих исследований поведения рентгенодифракционной картины кристаллов ниобата лития с примесью железа при воздействии лазерного излучения.

Область научных интересов: времяразрешающие рентгенодифракционные методики, динамика рентгенодифракционной картины, рентгенодифракционные исследования кристаллических материалов под внешним воздействием.