Методы

Автоэмиссионный растровый электронно-ионный (FIB) микроскоп Scios
Электронная, зондовая и оптическая микроскопия

Автоэмиссионный растровый электронно-ионный (FIB) микроскоп Scios

Прибор предназначен для решения большого спектра задач в материаловедении, таких как: получение микроскопических изображений в электронных и ионных пучках c высококим разрешением, в том числе в низковольном режиме и режиме торможения пучка, локальное травление и приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии, благодаря наличию четырех типов детекторов позволяет получать изображения в разных контрастах в режиме реального времени, а также решение задач ионной литографии. Содержит электронную и ионную колонны, системы для локального напыления и штатный манипулятор EasyLift.

Загрузка прибора (%):  80

Загрузка прибора по дням (не менять):  2022/04/19,2022/04/20,2022/04/21,2022/04/22,2022/04/25,2022/04/26,2022/04/27,2022/04/28,

Пример исследования: 

Рисунок 1
Пример ионной литографии хиральной плазмонной структуры в свободноподвешенной пленке серебра.

Технические характеристики: 

Разрешение электронной пушки при 30 кВ ускоряющего напряжения не хуже 1 нм
Разрешение ионной пушки при 30 кВ ускоряющего напряжения не хуже 5 нм