ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
ГОСТы
ГОСТы
ГОСТ Р 8.696-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
Читать далее
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью электронного микроскопа
Читать далее
ГОСТ Р 8.698-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Читать далее
ГОСТ Р 8.700-2010. Государственная система обеспечения единства измерений Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
Читать далее