Услуги

Перечень основных услуг, предоставляемых ЦКП:

  1. Структурные исследования белков, неорганических материалов, порошков методами порошковой рентгеновской дифрактометрии;
  2. Рентгенофлуоресцентные исследования поверхности, приповерхностных слоев, многослойных систем и тонких пленок, в том числе методом стоячих рентгеновских волн;
  3. Рентгенотопографические исследования реальной структуры кристаллов;
  4. Рентгеновская томография биологических объектов;
  5. Исследования методами просвечивающей и растровой электронной микроскопии атомной структуры, морфологии поверхности и элементного состава широкого класса материалов в области полупроводникового материаловедения, катализа, минералогии и биологии; 3D реконструкция объектов;
  6. Быстрое получение карт распределения элементов в образце, в том числе с высоким разрешением, с помощью сверхчувствительного энерго-дисперсионного детектора, установленного на высокоразрешающем просвечивающем электронном микроскопе;
  7. Изготовление наноразмерных изделий методом резки ионным пучком в растровом электронном микроскопе, «сварка» объектов (в том числе наноразмерных систем), создание электрических контактов между наноразмерными материалами различной природы;
  8. Электронно-дифракционное («на просвет» и «на отражение») исследование атомной структуры и микроструктуры, а также анализ качества поверхности различных материалов, включая аморфные материалы;
  9. Электронографический структурный анализ отдельных нанокристаллов методом «полого конуса»;
  10. Оперативный бесконтактный контроль атомарных поверхностей методами атомно-силовой микроскопии;
  11. Измерение локальных электрических характеристик (потенциала, пространственной вариации емкости поверхности, электростатических сил, тока, электромеханического отклика) методами атомно-силовой микроскопии;
  12. Исследование методами абсорбционной спектроскопии оптических характеристик, структуры и химического состава конденсированных материалов, в том числе параметров монокристаллов и изделий на их основе;
  13. Исследование спектральных характеристик в диапазоне 190-3300 нм и примесного состава монокристаллов, растворов органических и неорганических соединений, полиэлектролитных микро- и нанокапсул;
  14. Исследование методами конфокальной оптической микроскопии 3D объектов и их деталей с разрешением до 350 нм, получение изображений по глубине отдельных срезов прозрачных объектов субмикронного размера с последующим восстановлением трехмерной структуры образца;
  15. Измерение диэлектрических характеристик, исследование ионной и протонной проводимости и других физико-химических свойств кристаллов при высоких температурах в различных газовых атмосферах;
  16. Исследование тепловых характеристик и фазовых переходов, изменения массы материалов в различных газовых атмосферах и вакууме, а также измерения теплоемкости;
  17. Исследование качественного и количественного состава микропримесей и следовых примесей различных жидких и твердых материалов методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой с возможностью лазерного пробоотбора;
  18. Исследование элементного состава образцов методом атомно-эмиссионной спектрометрии;
  19. Проведение экспресс-анализа порошков и тонких пленок методом рентгеновской дифракции;
  20. Проведение быстрых высокотемпературных (300-1200 K) структурных исследований на уникальном монокристальном рентгеновском дифрактометре;
  21. Проведение мультитемпературных структурных исследований в широком интервале температур, включая гелиевый и азотный диапазоны, с моделированием динамики атомных характеристик на уникальном монокристальном рентгеновском дифрактометре;
  22. Кристаллографический анализ поверхности образцов с помощью детектора обратно-рассеянных электронов (EBSD) на РЭМ, в том числе, c одновременным построением карт EBSD, регистрацией микрофотографий и элементных карт (EDS), а также 3D реконструкцию объемных объектов;
  23. Исследование проводимости и вольтамперных характеристик различных полупроводниковых элементов (диодов, полевых и биполярных транзисторов фото-вольтаических ячеек и солнечных элементов) двух- и четырёх-зондовым методом;
  24. Рентгенофлуоресцентный экспресс-анализ элементного состава твердых неорганических материалов и построение карт распределения элементов;
  25. Механическая пробоподготовка плоскопараллельных поверхностей зеркального качества для электронной микроскопии включая резку, полировку и шлифовку образцов в автоматическом или полуавтоматическом режиме;
  26. Ионная полировка и очистка поверхности шлифов, травление поперечных срезов с помощью установки ионного травления.