ФЕДЕРАЛЬНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР
«КРИСТАЛЛОГРАФИЯ И ФОТОНИКА»
РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
Методы
- Главная
- ЦКП «Структурная диагностика материалов»
- Методы
- Оборудование для элементного анализа
- EDX-анализ состава на базе электронных микроскопов
Отбор по параметрам