Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G230 ST
FEI, США, 2006
Просвечивающий электронный микроскоп с ускоряющим напряжением 300 кВ, разрешающей способностью по точкам 2,0 ангстрема, по линиям – 1,4 ангстрема. В комплекте микроскопа имеются: гониометрическая головка, ПЗС-камера для регистрации изображений, приставка энергодисперсионного анализа для определения химического состава образцов, приставка просвечивающе-растрового режима, широкоугловой детектор тёмного поля для получения изображений с Z-контрастом.
| Ускоряющее напряжение | 300 кВ |
|
Разрешающая способность: по точкам по линиям |
2 Ангстрема 1,4 Ангстрема |
| Максимальный размер образца | 3 мм |
| Уровень вакуума в колонне микроскопа | ~10-8 torr |
| Водяное охлаждение с системой стабилизации температуры | |
Cтруктура плёнки BFO «в плане» после отжига при Т=650 ℃: а) HAADF STEM изображение; б-г) EDX-карты распределения химических элементов Bi, Fe и О; д-е) ЭД-спектры.
Микрофотографии поперечного среза композиции ЦТС-Pt-TiO2-SiO2 после отжига при T=900 ℃: изображение столбчатых зёрен перовскита.
Микрофотографии структуры поперечного среза ТБС-Pt-TiO2-SiO2 после лазерного отжига с энергией лазера 0,36 Дж/см2: а) общий вид поперечного среза ТБС-Pt после лазерного отжига; б) изображение с высоким разрешением приграничной области ТБС-Pt. Поперечный срез приготовлен методом механической шлифовки с последующим ионным травлением в установке Gatan PIPs.
Изображения наночастиц золота (а) и сульфида кадмия (б) с высоким разрешением.
Календарь загрузки прибора
| 11 | - в эти дни прибор занят |
| 22 | - в эти дни прибор свободен |
| 22 | - нерабочие дни |