Растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией JSM-7401F
JEOL, Япония, 2006
Растровый электронный микроскоп с пушкой полевой эмиссии. Содержит приставку энегодисперсионного рентгеновского микроанализа (EDS). Прибор предназначен, в основном, для изучение поверхности наноразразмерных объектов и структур с пониженным ускоряющем напряжением, в режиме торможения основного пучка.
| Разрешение при ускоряющем напряжении 15 кВ | не хуже 1 нм |
| Разрешение при ускоряющем напряжении 1 кВ (в режиме торможения первичного пучка (Gentle Beam)) | не хуже 1,5 нм |
Пример микрофотографии наночастиц меди, режим Gentle Beam, ускоряющее напряжение 1 кВ.
Календарь загрузки прибора
| 11 | - в эти дни прибор занят |
| 22 | - в эти дни прибор свободен |
| 22 | - нерабочие дни |