ФЕДЕРАЛЬНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР
«КРИСТАЛЛОГРАФИЯ И ФОТОНИКА»
РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
Услуги
- Главная
- ЦКП «Структурная диагностика материалов»
- Услуги
- Проведение экспресс-анализа порошков и тонких пленок методом рентгеновской дифракции
Отбор по параметрам