К содержанию
Шрифт
А
А
А
Цвет
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц
Дополнительно
Графика
Включить
Отключить
Монохромные изображения
Отключить Flash
Кернинг
Стандартный
Средний
Большой
Интервал
Одинарный
Полуторный
Двойной
Гарнитура
Без засечек
С засечками
Звук
Отключить
Тише
Нормально
Громче
Текущий уровень громкости:
50
Вернуть стандартные настройки
Обычная версия сайта
Закрыть дополнительные настройки
© Мибок: Версия для слабовидящих (модуль на сайт)
ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
О Центре
Выборы директора
О Центре
Структура
Руководство
Ученый совет
Совет молодых ученых
Профком
Закупочная деятельность
Вакансии
Контакты
Реквизиты
Документы
Противодействие коррупции
Наука
Научные направления
Наши достижения
Журналы
Отчеты по ФЦП, грантам Минобрнауки
Семинары
Конференции
Образование
Аспирантура
Диссертационные советы
Национальный проект «Наука и университеты»
Медиацентр
Видеоархив
Фотоархив
Новости
Интервью
ЦКП
Методы
Приборы
Услуги
Метрологическое обеспечение
Инфо
Контакты
Личный кабинет
Мероприятия
Фестиваль науки NAUKA 0+
Обратная связь
Карта сайта
Поиск
Авторизоваться
Обычная версия
Вы здесь:
Главная
ЦКП «Структурная диагностика материалов»
Приборы
Оптические методы исследования
Приборы
Рентгеновские методы исследования
Электронная, зондовая и оптическая микроскопия
Оборудование для изучения физических свойств
Оборудование для элементного анализа
Оптические методы исследования
Пробоподготовка
Оборудование ЦКП
Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп Leica TCS SPE
Читать далее
Спектрофотометр UV-Vis-NIR Cary 5000
Читать далее