Анализ поверхности образцов с помощью детектора обратно-рассеянных электронов (EBSD) на РЭМ, в том числе, c одновременным построением карт EBSD, регистрацией микрофотографий и элементных карт (EDS), 3D реконструкцию объемных объектов
Анализ поверхности образцов с помощью детектора обратно-рассеянных электронов (EBSD) на РЭМ, в том числе, c одновременным построением карт EBSD, регистрацией микрофотографий и элементных карт (EDS), 3D реконструкцию объемных объектов
Приборы:
Автоэмиссионный растровый электронно-ионный (FIB) микроскоп Scios