ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Услуги
Измерение локальных электрических характеристик (потенциала, пространственной вариации емкости поверхности, электростатических сил, тока, электромеханического отклика) методами атомно-силовой микроскопии
Измерение локальных электрических характеристик (потенциала, пространственной вариации емкости поверхности, электростатических сил, тока, электромеханического отклика) методами атомно-силовой микроскопии
Приборы: Исследовательский комплекс NtegraPrima для атомно-силовой микроскопии