ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Услуги
Оперативный бесконтактный контроль атомарных поверхностей методами атомно-силовой микроскопии
Оперативный бесконтактный контроль атомарных поверхностей методами атомно-силовой микроскопии
Приборы: Исследовательский комплекс Solver Pro M для атомно-силовой микроскопии / Исследовательский комплекс NtegraPrima для атомно-силовой микроскопии