Исследования методами ПЭМ и РЭМ атомной структуры, морфологии поверхности и элементного состава широкого класса материалов в области полупроводникового материаловедения, катализа, минералогии и биологии; 3D реконструкция объектов
Приборы: Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai Osiris / Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G²30 ST / Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G²12 SPIRIT / Растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией JSM-7401F / Автоэмиссионный растровый электронно-ионный (FIB) микроскоп Scios / Растровый электронно-ионный микроскоп FIB Quanta 200 3D