К содержанию
Шрифт
А
А
А
Цвет
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц
Дополнительно
Графика
Включить
Отключить
Монохромные изображения
Отключить Flash
Кернинг
Стандартный
Средний
Большой
Интервал
Одинарный
Полуторный
Двойной
Гарнитура
Без засечек
С засечками
Звук
Отключить
Тише
Нормально
Громче
Текущий уровень громкости:
50
Вернуть стандартные настройки
Обычная версия сайта
Закрыть дополнительные настройки
© Мибок: Версия для слабовидящих (модуль на сайт)
ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
О Комплексе
О Комплексе
Структура
Совет молодых ученых
Профком
Контакты
Наука
Журналы
Семинары
Отчеты по ФЦП, грантам Минобрнауки
Образование
Аспирантура
Диссертационные советы
Медиацентр
Фотоархив
Новости
Интервью
ЦКП
Методы
Приборы
Услуги
Метрологическое обеспечение
Инфо
Контакты
Личный кабинет
Мероприятия
Обратная связь
Карта сайта
Поиск
Авторизоваться
Обычная версия
Вы здесь:
Главная
ЦКП «Структурная диагностика материалов»
Методы
Электронная, зондовая и оптическая микроскопия
Растровая электронная микроскопия
Методы
Рентгеновские методы исследования
Исследование элементного состава образцов методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Исследование фазового состава и строения образцов методами рентгеновской дифрактометрии и малоуглового рассеяния
Исследование атомной структуры монокристаллов в широком интервале температур и давлений
Электронная, зондовая и оптическая микроскопия
Растровая электронная микроскопия
Просвечивающая электронная микроскопия
Сканирующая зондовая микроскопия
Оптическая микроскопия
Оборудование для изучения физических свойств
Измерение электрических характеристик
Измерение физических свойств
Оборудование для элементного анализа
Определение элементного состава с помощью плазменных спектрометров
EDX-анализ состава на базе электронных микроскопов
Определение состава по данным рентгеновской флуоресценции
Оптические методы исследования
Спектрофотометры
Оптическая микроскопия
Пробоподготовка
Оборудование ЦКП
Автоэмиссионный растровый электронно-ионный (FIB) микроскоп Scios
Читать далее
Растровый электронно-ионный микроскоп FIB Quanta 200 3D
Читать далее
Растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией JSM-7401F
Читать далее