Услуги

Структурные исследования белков, неорганических материалов, порошков методами порошковой рентгеновской дифрактометрии

Рентгенофлуоресцентные исследования поверхности, приповерхностных слоев, многослойных систем и тонких пленок, в том числе методом стоячих рентгеновских волн

Рентгенотопографические исследования реальной структуры кристаллов

Рентгеновская томография биологических объектов

Исследования методами ПЭМ и РЭМ атомной структуры, морфологии поверхности и элементного состава широкого класса материалов в области полупроводникового материаловедения, катализа, минералогии и биологии; 3D реконструкция объектов

Быстрое получение карт распределения элементов в образце, в том числе с высоким разрешением, с помощью сверхчувствительного энерго-дисперсионного детектора, установленного на высокоразрешающем просвечивающем электронном микроскопе

Изготовление наноразмерных изделий методом резки ионным пучком в растровом электронном микроскопе, «сварка» объектов (в том числе наноразмерных систем), создание электрических контактов между наноразмерными материалами различной природы

Электронно-дифракционное («на просвет» и «на отражение») исследование атомной структуры и микроструктуры, а также анализ качества поверхности различных материалов, включая аморфные материалы

Электронографический структурный анализ отдельных нанокристаллов методом «полого конуса»

Оперативный бесконтактный контроль атомарных поверхностей методами атомно-силовой микроскопии

Измерение локальных электрических характеристик (потенциала, пространственной вариации емкости поверхности, электростатических сил, тока, электромеханического отклика) методами атомно-силовой микроскопии

Исследование методами абсорбционной спектроскопии оптических характеристик, структуры и химического состава конденсированных материалов, в том числе параметров монокристаллов и изделий на их основе

Исследование спектральных характеристик в диапазоне 190-3300 нм и примесного состава монокристаллов, растворов органических и неорганических соединений, полиэлектролитных микро- и нанокапсул

Исследование методами конфокальной оптической микроскопии 3D объектов с разрешением до 350 нм, получение изображений по глубине отдельных срезов прозрачных объектов субмикронного размера с последующим восстановлением трехмерной структуры

Измерение диэлектрических характеристик, исследование ионной и протонной проводимости и других физико-химических свойств кристаллов при высоких температурах в различных газовых атмосферах

Исследование тепловых характеристик и фазовых переходов, изменения массы материалов в различных газовых атмосферах и вакууме, а также измерения теплоемкости

Исследование качественного и количественного состава микропримесей и следовых примесей различных жидких и твердых материалов методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой с возможностью лазерного пробоотбора

Исследование элементного состава образцов методом атомно-эмиссионной спектрометрии

Проведение экспресс-анализа порошков и тонких пленок методом рентгеновской дифракции

Проведение быстрых высокотемпературных (300-1200 K) структурных исследований на уникальном монокристальном рентгеновском дифрактометре

Проведение мультитемпературных структурных исследований в широком интервале температур, включая гелиевый и азотный диапазоны, с моделированием динамики атомных характеристик на уникальном монокристальном рентгеновском дифрактометре

Анализ поверхности образцов с помощью детектора обратно-рассеянных электронов (EBSD) на РЭМ, в том числе, c одновременным построением карт EBSD, регистрацией микрофотографий и элементных карт (EDS), 3D реконструкцию объемных объектов

Исследование проводимости и вольтамперных характеристик различных полупроводниковых элементов (диодов, полевых и биполярных транзисторов фото-вольтаических ячеек и солнечных элементов) двух- и четырёх-зондовым методом

Рентгенофлуоресцентный экспресс-анализ элементного состава твердых неорганических материалов и построение карт распределения элементов

Механическая пробоподготовка плоскопараллельных поверхностей зеркального качества для электронной микроскопии включая резку, полировку и шлифовку образцов в автоматическом или полуавтоматическом режиме

Ионная полировка и очистка поверхности шлифов, травление поперечных срезов с помощью установки ионного травления