К содержанию
Шрифт
А
А
А
Цвет
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц
Дополнительно
Графика
Включить
Отключить
Монохромные изображения
Отключить Flash
Кернинг
Стандартный
Средний
Большой
Интервал
Одинарный
Полуторный
Двойной
Гарнитура
Без засечек
С засечками
Звук
Отключить
Тише
Нормально
Громче
Текущий уровень громкости:
50
Вернуть стандартные настройки
Обычная версия сайта
Закрыть дополнительные настройки
© Мибок: Версия для слабовидящих (модуль на сайт)
ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
О Комплексе
О Комплексе
Структура
Совет молодых ученых
Профком
Контакты
Наука
Журналы
Семинары
Отчеты по ФЦП, грантам Минобрнауки
Образование
Аспирантура
Диссертационные советы
Медиацентр
Фотоархив
Новости
Интервью
ЦКП
Методы
Приборы
Услуги
Метрологическое обеспечение
Инфо
Контакты
Личный кабинет
Мероприятия
Обратная связь
Карта сайта
Поиск
Авторизоваться
Обычная версия
Вы здесь:
Главная
Карта сайта
Карта сайта
О Комплексе
О Комплексе
Структура
Отделения
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова
Центр фотохимии
Институт фотонных технологий
Институт проблем лазерных и информационных технологий (ИПЛИТ) - Шатура
Институт систем обработки изображений - Самара
Лаборатория Космического материаловедения - Калуга
Совет молодых ученых
Состав СМУ
Профком
Состав профкома
Положения
Документы
Фотоархив
Контакты
Реквизиты
Контакты
Наука
Журналы
Семинары
Отчеты по ФЦП, грантам Минобрнауки
Образование
Аспирантура
Диссертационные советы
Медиацентр
Фотоархив
Квест «Шифры кристаллографии»-2023
Фестиваль науки-2022
Квест «Шифры кристаллографии»-2021
Фестиваль науки-2019
XLII Шубниковские чтения
Фестиваль науки-2018
Фестиваль науки-2017
24-ый Конгресс Международного союза кристаллографов
СИН-нано-2017
Фотоника. Мир лазеров и оптики-2017
Новости
Интервью
ЦКП
Методы
Рентгеновские методы исследования
Исследование элементного состава образцов методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Исследование фазового состава и строения образцов методами рентгеновской дифрактометрии и малоуглового рассеяния
Исследование атомной структуры монокристаллов в широком интервале температур и давлений
Электронная, зондовая и оптическая микроскопия
Растровая электронная микроскопия
Просвечивающая электронная микроскопия
Сканирующая зондовая микроскопия
Оптическая микроскопия
Оборудование для изучения физических свойств
Измерение электрических характеристик
Измерение физических свойств
Оборудование для элементного анализа
Определение элементного состава с помощью плазменных спектрометров
EDX-анализ состава на базе электронных микроскопов
Определение состава по данным рентгеновской флуоресценции
Оптические методы исследования
Спектрофотометры
Оптическая микроскопия
Пробоподготовка
Приборы
Рентгеновские методы исследования
Электронная, зондовая и оптическая микроскопия
Оборудование для изучения физических свойств
Оборудование для элементного анализа
Оптические методы исследования
Пробоподготовка
Услуги
Метрологическое обеспечение
МВИ
ГОСТы
Инфо
Cведения о текущих контрактах ФЦП
Отчеты по государственным контрактам
Буклет
Документы
Отзывы
Контакты
Личный кабинет
Мероприятия