1993 г.р., младший научный сотрудник Института кристаллографии имени А.В. Шубникова РАН. В 2014 году окончил кафедру Материалы микро-, опто-, наноэлектроники Московского института тонких химических технологий имени М.В. Ломоносова (ныне РТУ МИРЭА) по специальности Материаловедение и технологии новых материалов. С 2014 года работает в Институте кристаллографии имени А.В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН в лаборатории Рентгеновских методов анализа и синхротронного излучения. Квалифицированный экспериментатор в области монокристальной высокоразрешающей рентгеновской дифракции.
Область научных интересов: двух-, трехкристальная рентгеновская дифракция многослойных планарных неорганических и гибридных систем, рентгеновская рефлектометрия, рентгеновский флуоресцентный анализ и стоячие рентгеновские волны.