1985 г.р., старший научный сотрудник Института кристаллографии имени А.В. Шубникова РАН, кандидат физико-математических наук. В 2007 году окончил факультет электроники Московского государственного института электроники и математики (МИЭМ) по специальности «Микроэлектроника и твердотельная электроника». С 2005 года работает в Институте кристаллографии имени А.В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН в лаборатории рефлектометрии и малоуглового рассеяния. В 2011 году защитил кандидатскую диссертацию по специальности «Кристаллография, физика кристаллов».
Соавтор более 30 статей в рецензируемых российских и международных научных журналах, более 100 тезисов докладов на национальных и международных и конференциях, лауреат первых премий на общей секции конкурсов научных работ ИК РАН 2011 и 2015 гг. за цикл работ по рентгеновской микротомографии на лабораторных источниках.
Область научных интересов: рентгеновская компьютерная микротомография органических и неорганических объектов, топо-томография кристаллов, рентгеновская оптика, обработка изображений.