Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai Osiris
FEI, США, 2015
Просвечивающий электронный микроскоп с ускоряющим напряжением 200 кВ, разрешающей способностью по точкам 2,5 ангстрема, по линиям – 1,02 ангстрема. В комплекте микроскопа имеются: гониометрическая головка, ПЗС-камера для регистрации изображений, приставка энергодисперсионного анализа для определения химического состава образцов, приставка просвечивающе-растрового режима, широкоугловой детектор тёмного поля для получения изображений с Z-контрастом.
| Ускоряющее напряжение | 200 кВ |
|
Разрешающая способность: по точкам по линиям |
2,5 Ангстрема 1,02 Ангстрема |
| Максимальный размер образца | 3 мм |
| Уровень вакуума в колонне микроскопа | ~10-8 torr |
| Водяное охлаждение с системой стабилизации температуры | |
Cтруктура композиции ЦТС-Pt-TiO2-SiO2 после лазерного отжига: а) HAADF STEM изображение; б-з) EDX-карты распределения химических элементов композиции.
Микрофотографии поперечного среза композиции ЦТС-Pt-TiO2-SiO2 после лазерного отжига: изображения отожжённой области.
Тестовые изображения монокристаллического кремния (а) и наночастиц золота (б) с высоким разрешением.
Календарь загрузки прибора
| 11 | - в эти дни прибор занят |
| 22 | - в эти дни прибор свободен |
| 22 | - нерабочие дни |