К содержанию
Шрифт
А
А
А
Цвет
Ц
Ц
Ц
Ц
Ц
Дополнительно
Графика
Включить
Отключить
Монохромные изображения
Отключить Flash
Кернинг
Стандартный
Средний
Большой
Интервал
Одинарный
Полуторный
Двойной
Гарнитура
Без засечек
С засечками
Звук
Отключить
Тише
Нормально
Громче
Текущий уровень громкости:
50
Вернуть стандартные настройки
Обычная версия сайта
Закрыть дополнительные настройки
© Мибок: Версия для слабовидящих (модуль на сайт)
ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
О Центре
Выборы директора
О Центре
Структура
Руководство
Ученый совет
Совет молодых ученых
Профком
Закупочная деятельность
Вакансии
Контакты
Реквизиты
Документы
Противодействие коррупции
Наука
Научные направления
Наши достижения
Журналы
Отчеты по ФЦП, грантам Минобрнауки
Семинары
Конференции
Образование
Аспирантура
Диссертационные советы
Национальный проект «Наука и университеты»
Медиацентр
Видеоархив
Фотоархив
Новости
Интервью
ЦКП
Методы
Приборы
Услуги
Метрологическое обеспечение
Инфо
Контакты
Личный кабинет
Мероприятия
Фестиваль науки NAUKA 0+
Обратная связь
Карта сайта
Поиск
Авторизоваться
Обычная версия
Вы здесь:
Главная
ЦКП «Структурная диагностика материалов»
Методы
Электронная, зондовая и оптическая микроскопия
Сканирующая зондовая микроскопия
Методы
Рентгеновские методы исследования
Исследование элементного состава образцов методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Исследование фазового состава и строения образцов методами рентгеновской дифрактометрии и малоуглового рассеяния
Исследование атомной структуры монокристаллов в широком интервале температур и давлений
Электронная, зондовая и оптическая микроскопия
Растровая электронная микроскопия
Просвечивающая электронная микроскопия
Сканирующая зондовая микроскопия
Оптическая микроскопия
Оборудование для изучения физических свойств
Измерение электрических характеристик
Измерение физических свойств
Оборудование для элементного анализа
Определение элементного состава с помощью плазменных спектрометров
EDX-анализ состава на базе электронных микроскопов
Определение состава по данным рентгеновской флуоресценции
Оптические методы исследования
Спектрофотометры
Оптическая микроскопия
Пробоподготовка
Оборудование ЦКП
Исследовательский комплекс NtegraPrima для атомно-силовой микроскопии
Читать далее
НаноСкан-3D. Сканирующий нанотвердомер
Читать далее
Исследовательский комплекс Solver Pro M для атомно-силовой микроскопии
Читать далее