Предназначен для проведения дифракционных экспериментов с монокристаллами неорганических соединений. Прибор оснащен тремя приставками для экспериментов при высоких (0-1200 ℃) и низких (28-500 K) температурах. Получаемые экспериментальные данные используются для определения атомной структуры кристаллов (параметров элементарной ячейки, пространственной симметрии, позиционных параметров атомов, параметров тепловых колебаний атомов, распределения электронной плотности).
|
Источник рентгеновского излучения
|
комплектация вращающимся анодом, с предустановленными лентами для двух длин волн (Ag- и Mo-)
|
|
Интенсивность пучка после рентгеновской оптики
|
3-8*109 ph/(s*mm2)
|
|
Двумерный детектор
|
детектор на основе прямого счета фотонов. Размер матрицы, Ш*В=121,8x77,5 мм. Размер пикселя 100x100 мкм. Максимальный единовременно доступный телесный угол в горизонтальной плоскости образца 150 градусов
|
|
Гониометр с каппа-геометрией
|
Точность установки углов 0,0001 градуса
|
|
Низкотемпературная приставка 1
|
Cobra Plus (80-500 K)
|
|
Низкотемпературная приставка 2
|
N-Helix (28-300 K)
|
|
Высокотемпературная приставка
|
Gaz Blower (300-1200 K)
|
|
Алмазные наковальни для проведения экспериментов под давлением
|
95 ГПа
|
