Методы

Монокристальный рентгеновский дифрактометр XtaLAB Synergy-DW
Rigaku, Япония, 2020

Предназначен для проведения дифракционных экспериментов с монокристаллами неорганических соединений. Прибор оснащен тремя приставками для экспериментов при высоких (0-1200 ℃) и низких (28-500 K) температурах. Получаемые экспериментальные данные используются для определения атомной структуры кристаллов (параметров элементарной ячейки, пространственной симметрии, позиционных параметров атомов, параметров тепловых колебаний атомов, распределения электронной плотности).

Источник рентгеновского излучения комплектация вращающимся анодом, с предустановленными лентами для двух длин волн (Ag- и Mo-)
Интенсивность пучка после рентгеновской оптики 3-8*109 ph/(s*mm2)
Двумерный детектор детектор на основе прямого счета фотонов. Размер матрицы, Ш*В=121,8x77,5 мм. Размер пикселя 100x100 мкм. Максимальный единовременно доступный телесный угол в горизонтальной плоскости образца 150 градусов
Гониометр с каппа-геометрией Точность установки углов 0,0001 градуса
Низкотемпературная приставка 1 Cobra Plus (80-500 K)
Низкотемпературная приставка 2 N-Helix (28-300 K)
Высокотемпературная приставка Gaz Blower (300-1200 K)
Алмазные наковальни для проведения экспериментов под давлением 95 ГПа
Календарь загрузки прибора
11 - в эти дни прибор занят
22 - в эти дни прибор свободен
22 - нерабочие дни