Порошковый дифрактометр X’PERT PRO
PANalytical, Нидерланды, 2005
Предназначен для исследования поликристаллических (порошковых) объектов (фазовый состав, параметры ячейки, реальная (дефектная) структура) и другие работы.
| Угловое разрешение по 2θ | до 0,04° (ПШПВ) |
| Угловая точность по 2θ | до 0,001° (с использованием метода внутреннего стандарта может быть улучшена) |
Календарь загрузки прибора
| 11 | - в эти дни прибор занят |
| 22 | - в эти дни прибор свободен |
| 22 | - нерабочие дни |