✕
✕
О Центре
Выборы директора
О Центре
Структура
Структурные подразделения
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Центр фотохимии РАН
Институт фотонных технологий РАН
Филиалы
Институт проблем лазерных и информационных технологий РАН
Институт систем обработки изображений РАН
Лаборатория Космического материаловедения ИК РАН
Руководство
Ученый совет
Состав Ученого совета
Положение об Ученом совете
Совет молодых ученых
Состав СМУ
Положение о СМУ
Профком
Состав профкома
Положения
Документы
Фотоархив
Прогулка на сапах в Строгинском заливе
Посещение выставки Увидеть неизвестное
Посещение выставки После импрессионизма
Экскурсия на киностудию Мосфильм
Масленица в Звенигороде
Детский новогодний праздник-2023
Экскурсия в Истринский район
Масленица в Переславле-Залесском
Экскурсия в усадьбу Абрамцево
Масленица Подольск-Дубровицы-Романцево
Экскурсия в Парк «Патриот»
Экскурсия в г. Кимры
Масленица в г. Серпухове
Экскурсия в г. Малоярославец
Детский новогодний праздник-2020
Посещение выставок В.Д. Поленова, Фаберже и Сальвадора Дали
Экскурсия в Музей ВОВ на Поклонной горе
«Ученая Масленица» в г. Дубне
Экскурсия в г. Клин на фабрику елочных игрушек и музей П.И. Чайковского
Контакты
Реквизиты
Закупочная деятельность
Вакансии
Контакты
Реквизиты
Документы
Противодействие коррупции
Наука
Научные направления
Наши достижения
Журналы
Отчеты по ФЦП, грантам Минобрнауки
Семинары
Конференции
Образование
Аспирантура
Диссертационные советы
Диссертационный совет 24.1.245.01
Диссертационный совет 24.1.245.02
Национальный проект «Наука и университеты»
Медиацентр
Видеоархив
Фотоархив
Квест «Шифры кристаллографии»-2023
Фестиваль науки-2022
Квест «Шифры кристаллографии»-2021
Фестиваль науки-2019
XLII Шубниковские чтения
Фестиваль науки-2018
Фестиваль науки-2017
24-ый Конгресс Международного союза кристаллографов
СИН-нано-2017
Фотоника. Мир лазеров и оптики-2017
Новости
Интервью
ЦКП
Методы
Рентгеновские методы исследования
Исследование элементного состава образцов методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Исследование фазового состава и строения образцов методами рентгеновской дифрактометрии и малоуглового рассеяния
Исследование атомной структуры монокристаллов в широком интервале температур и давлений
Электронная, зондовая и оптическая микроскопия
Растровая электронная микроскопия
Просвечивающая электронная микроскопия
Сканирующая зондовая микроскопия
Оптическая микроскопия
Оборудование для изучения физических свойств
Измерение электрических характеристик
Измерение физических свойств
Оборудование для элементного анализа
Определение элементного состава с помощью плазменных спектрометров
EDX-анализ состава на базе электронных микроскопов
Определение состава по данным рентгеновской флуоресценции
Оптические методы исследования
Спектрофотометры
Оптическая микроскопия
Пробоподготовка
Приборы
Рентгеновские методы исследования
Электронная, зондовая и оптическая микроскопия
Оборудование для изучения физических свойств
Оборудование для элементного анализа
Оптические методы исследования
Пробоподготовка
Услуги
Метрологическое обеспечение
МВИ
ГОСТы
Инфо
Cведения о текущих контрактах ФЦП
Отчеты по государственным контрактам
Буклет
Документы
Отзывы
Контакты
Личный кабинет
Мероприятия
Фестиваль науки NAUKA 0+
Квест «Шифры кристаллографии»
Экскурсия «Светится. Работает. Живёт»
Версия для слабовидящих
Для сотрудников
ФЕДЕРАЛЬНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР
«КРИСТАЛЛОГРАФИЯ И ФОТОНИКА»
РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
✕
О Центре
Выборы директора
О Центре
Структура
Руководство
Ученый совет
Совет молодых ученых
Профком
Закупочная деятельность
Вакансии
Контакты
Реквизиты
Документы
Противодействие коррупции
Наука
Научные направления
Наши достижения
Журналы
Отчеты по ФЦП, грантам Минобрнауки
Семинары
Конференции
Образование
Аспирантура
Диссертационные советы
Национальный проект «Наука и университеты»
Медиацентр
Видеоархив
Фотоархив
Новости
Интервью
ЦКП
Методы
Приборы
Услуги
Метрологическое обеспечение
Инфо
Контакты
Личный кабинет
Мероприятия
Фестиваль науки NAUKA 0+
Еще
ГОСТы
Главная
ЦКП «Структурная диагностика материалов»
Метрологическое обеспечение
ГОСТы
Методики выполнения измерений, имеющие статус Национального стандарта РФ, разработанные с участием ЦКП «Структурная диагностика материалов»
ГОСТ Р 8.696-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью электронного микроскопа
ГОСТ Р 8.698-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
ГОСТ Р 8.700-2010. Государственная система обеспечения единства измерений Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
×
Отбор по параметрам
