Учеными из Института кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН в сотрудничестве с коллегами Московского государственного медико-стоматологического университета им. А.И. Евдокимова, проведена оценка стабильности поверхности дентального имплантата